一种晶片测试电路
授权
摘要
本实用新型提供了包括USB连接电路、主控芯片电路、闪存接口电路、供电及基准电路、电源管理电路以及电流检测与自恢复电路；本实用新型还提供了一种应用，包括上述的晶片测试电路，该晶片测试电路用于制作晶片测试卡。本实用新型能克服浪涌电流造成的测试异常及损坏，当连接短路的晶元后，保护电路会在1ms以内启动，当短路解除以后，会自动恢复输出。
基本信息
专利标题 ：
一种晶片测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020491705.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-07
授权号 ：
CN213181881U
授权日 ：
2021-05-11
发明人 ：
郑宗宝张治强
申请人 ：
广东长兴半导体科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市松山湖园区科技九路2号2栋101室、201室、301室
代理机构 ：
东莞技创百科知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
邱凯
优先权 ：
CN202020491705.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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