晶片分选测试电极装置

专利权的终止

摘要

晶片分选测试电极装置，由偏心轮、步进电机、寻位圆盘、光电传感器、摆动杆、电子数显千分尺、高精度滑块A、高精度滑块B、测试电极、拉簧构成，步进电机驱动偏心轮和寻位圆盘，杠杆结构的摆动杆与偏心轮接触，测试电极固定在高精度滑块A上并沿着轨道滑动，该高精度滑块A通过一连接块固定在另一高精度滑块B上，高精度滑块B设有与滑块B接触的电子数显千分尺；偏心轮在摆动杆后端顺时针转动，摆动杆前端的测试电极就相应的做上下往复运动，其中由步进电机驱动偏心轮转动，拉簧B两端分别固定于滑块B和滑块A的侧面，保持滑块B和电子数显千分尺底端的紧密接触。

基本信息

专利标题：

晶片分选测试电极装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720130898.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-12-12

授权号：

CN201130232Y

授权日：

2008-10-08

发明人：

钟丹秋徐华军谢金才孙迎春

申请人：

南京熊猫仪器仪表有限公司

申请人地址：

210002江苏省南京市中山东路301号

代理机构：

南京天翼专利代理有限责任公司

代理人：

汤志武

优先权：

CN200720130898.X

主分类号：

G01R31/265

IPC分类号：

G01R31/265 B07C5/00