本实用新型公开了一种提高定位精度、提高测量准确度和避免晶片发生碎片的晶片自动角度分选系统。本实用新型包括工作台，工作台上依次设置有弹夹式上料机构、方向测试机构、角度测试机构和分选下料盘，弹夹式上料机构与方向测试机构之间设置有第一运料模组，方向测试机构与角度测试机构之间设置有第二运料模组，角度测试机构和分选下料盘之间设置有第三运料模组；方向测试机构包括直驱马达和与直驱马达相连接的方向测试座，方向测试座的斜上方设置有光纤传感器，角度测试机构包括呈斜线依次分布于工作台上的X射线发射器、测试吸盘座和X射线接收器，测试吸盘座的两端设置有电手指定位装置。本实用新型应用于晶片角度分选设备的技术领域。