一种测试装置及晶片自动测试机
授权
摘要
本实用新型公开了一种测试装置及晶片自动测试机，属于晶片测试技术领域。该测试装置包括测试台，还包括载台和转动设于所述载台上的旋转工作台，所述测试台设于所述旋转工作台的上部；所述旋转工作台底部设有调节柱，所述调节柱贯穿所述载台并与所述载台转动连接；所述调节柱的底部设有调节杆，推动所述调节杆，所述调节杆能够带动所述调节柱和所述旋转工作台转动。一种晶片自动测试机，包括上述的测试装置。本实用新型通过将测试台设于旋转工作台上，将旋转工作台与载台转动连接实现测试台的在水平面的位置可调。
基本信息
专利标题 ：
一种测试装置及晶片自动测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921035457.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-04
授权号 ：
CN210376602U
授权日 ：
2020-04-21
发明人 ：
范群意
申请人 ：
范群意
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区梅林八号路天居水木澜山居1栋16B
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
胡彬
优先权 ：
CN201921035457.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-04-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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