IGBT测试台和测试系统
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摘要

本实用新型提供了一种IGBT测试台和测试系统,其中,该测试台包括第一IGBT、第二IGBT、第一驱动板、第二驱动板、储能电容、负载电感、充电接触器、第一直流电源、放电接触器和放电电阻;第一IGBT门极与第一驱动板连接,集电极与第二IGBT发射极连接,发射极与储能电容一端连接;第二IGBT门极与第二驱动板连接,集电极与储能电容另一端连接;负载电感并联在第二IGBT集电极和发射极两端;充电接触器一端与第一直流电源第一输出端连接,另一端与储能电容另一端连接,储能电容一端与第一直流电源第二输出端连接;放电接触器与放电电阻串联后并联在储能电容两端。本实用新型通过IGBT测试台对IGBT各个参数进行测量,减轻了工人工作量,降低了测试出错率,提高了测试质量。

基本信息
专利标题 :
IGBT测试台和测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921728292.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-16
授权号 :
CN211014533U
授权日 :
2020-07-14
发明人 :
张贞飞魏冬姜云旦王延金赵敏朱燕霞
申请人 :
新誉庞巴迪牵引系统有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市武进国家高新技术产业开发区凤林南路199号
代理机构 :
常州市天龙专利事务所有限公司
代理人 :
翟丹丹
优先权 :
CN201921728292.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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