本实用新型涉及电路检测技术领域，具体公开一种探针组件及四线法探针测试组件，所述探针组件包括间隔设置的两检测探针，其中，两所述检测探针均用于电连接至待检测的产品的同一检测点；所述检测探针包括针筒和位于所述针筒靠近所述检测点一端的针头；所述针头位于所述针筒的轴线偏向另一所述检测探针的一侧，使得两所述针头的针尖之间的距离小于两所述针筒的轴线之间的距离。本实用新型提供一种探针组件及四线法探针测试组件，对检测点的尺寸要求较低，有利于在小尺寸的检测点上实现开尔文四线检测。