一种高电流测试探针及探针组件

授权

摘要

本实用新型涉及芯片检测技术领域，更具体地说，它涉及一种高电流测试探针，包括针体和导电套，导电套设有供针体容纳的内腔，内腔的内壁抵接针体侧壁，内腔相对的两端设有供针体两端部分别穿出的通孔；本实用新型采用在探针外套设导电套，导电套的内壁与高电流测试探针抵接配合，可以增加电流经过高电流测试探针的导通的横截面积，使高电流可以顺畅通过，从而提高测试的稳定性。本实用新型还涉及一种探针组件，包括上述高电流测试探针，还包括探针座，探针座上设置有多个高电流测试探针。

基本信息

专利标题：

一种高电流测试探针及探针组件

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921399840.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-23

授权号：

CN210604724U

授权日：

2020-05-22

发明人：

刘丽贞

申请人：

深圳市容微精密电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华区观澜樟坑径金倡达科技园F栋2楼

代理机构：

深圳鸿业专利代理有限公司

代理人：

朱海东

优先权：

CN201921399840.4

主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/067 G01R31/26