一种高电流测试探针

授权

摘要

本实用新型公开了一种高电流测试探针，包括中空结构的壳体，所述壳体的下端设有与外部连通的连通孔，且连通孔内设有挡板，且挡板的两端均通过连接机构与壳体连接，所述壳体内设有探针主体，所述探针主体的一侧设有移动机构，且探针主体的另一侧设有缓冲机构，所述壳体的两侧侧壁均滑动连接有把手，且壳体的上端设有固定机构。本实用新型能够在非工作状态下将探针收入壳体中，便于对探针进行保护。

基本信息

专利标题：

一种高电流测试探针

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020870422.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-22

授权号：

CN213457047U

授权日：

2021-06-15

发明人：

李越

申请人：

西安和光明宸科技有限公司

申请人地址：

陕西省西安市高新区丈八街办瞪羚路26号西安理工大学科技园E座312-04

代理机构：

西安弘理专利事务所

代理人：

宁文涛

优先权：

CN202020870422.5

主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/067