探针卡短路保护组件以及探针测试装置

授权

摘要

本实用新型提供一种探针卡短路保护组件以及探针测试装置，所述探针卡短路保护组件包括旋转轴、用于支撑该旋转轴的支撑架、套设于该旋转轴上的熔断器、驱动所述旋转轴的驱动装置以及用于电连接所述熔断器与外部电路的第一连接部和第二连接部；所述熔断器包括载熔件及若干根熔丝，所述载熔件固定套设于所述旋转轴上，若干根所述熔丝沿所述旋转轴的轴向延伸且沿所述载熔件的周向间隔排布；所述第一连接部和第二连接部与旋转至第一连接部与第二连接部之间的熔丝电连接。通过在探针测试装置中加入探针卡短路保护组件，可以防止探针卡被烧坏。同时，采用可自动或手动切换熔丝的熔断器，节约了更换熔丝的时间，能够快速恢复测试工艺，提高产能。

基本信息

专利标题：

探针卡短路保护组件以及探针测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920439681.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-02

授权号：

CN210109163U

授权日：

2020-02-21

发明人：

侯天宇周杰田茂

申请人：

德淮半导体有限公司

申请人地址：

江苏省淮安市淮阴区长江东路599号

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙)

代理人：

余明伟

优先权：

CN201920439681.X

主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/073