多用式调阻测试探针
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种多用式调阻测试探针,包括探针头和基体;其特征在于一绝缘连接体一端与探针头连接,另一端与设置在基体上的高度微调机构的活动端连接;基体底部固定磁块。它通过磁性吸附于探针板上,可相对于探针板活动,具有很高的空间自由度调节性能,能够灵活反复使用,节省了测试不同基片时的探针用量,节约了厂家成本。同时它的高度调节机构有效防止测试针端头接触移动中的基片而被碰坏的情况发生,提高了探针的工作寿命。

基本信息
专利标题 :
多用式调阻测试探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720038852.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-06-21
授权号 :
CN201083763Y
授权日 :
2008-07-09
发明人 :
张学忠
申请人 :
苏州和普激光设备开发有限公司
申请人地址 :
215011江苏省苏州市新区滨河路729号工业大厦210室
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
范晴
优先权 :
CN200720038852.5
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2011-08-24 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101099925255
IPC(主分类) : G01R 1/067
专利号 : ZL2007200388525
申请日 : 20070621
授权公告日 : 20080709
终止日期 : 20100621
2008-07-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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