本实用新型涉及电子设备测试技术领域，具体公开一种探针倒挂式测试机构，包括：固定定位块，所述固定定位块设有用于放置待测零件的产品槽，所述产品槽的槽底设有若干上下贯通的探针孔；探针组件，所述探针组件包括针载板和固定于所述针载板上的若干金属探针；所述金属探针位于所述探针孔中并可沿所述探针孔上下滑动；驱动装置，所述驱动装置的驱动端与所述探针组件连接，用于驱动所述探针组件往上运动以使所述金属探针往上顶紧所述待测零件。本实用新型提供一种探针倒挂式测试机构，能解决传统探针式测试机构的金属探针容易出现弯折的问题。