探针平台天线测试系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种探针平台天线测试系统，用于保证测试过程中被测天线和探针的稳定性，包括计算机、控制系统、测量仪表、射频单元、摇臂旋转台、测试探头、防震台、抱杆和探针台；在本实用新型中，被测件和探针台位于与竖直方向存在夹角的弯曲抱杆上，摇臂跟随外围旋转台进行旋转来对被测天线进行3D球面的扫描，同时在防震台上使用多种减震方式进行减震保持被测天线的稳定性。

基本信息

专利标题：

探针平台天线测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020291786.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-11

授权号：

CN212364436U

授权日：

2021-01-15

发明人：

陈宇钦张佳莺彭方云

申请人：

上海益麦电磁技术有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山市开发区西江路188号11号房

代理机构：

昆山中际国创知识产权代理有限公司

代理人：

尤天珍

优先权：

CN202020291786.8

主分类号：

G01R29/10

IPC分类号：

G01R29/10