片上天线测试系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种片上天线测试系统，包括：暗室及均设于暗室内的探针台、测试机器人和测试天线，所述探针台用于固定待测的片上天线，所述测试机器人设置于所述探针台的上方并与暗室固定，所述测试天线连接于测试机器人并可由测试机器人驱动进行空间运动对待测的片上天线进行测试。将测试机器人通过侧挂或悬挂方式固定安装于探针台的上方，能够在待测天线的辐射方向上实现半球扫描覆盖，实现天线的远场和近场测试。
基本信息
专利标题 ：
片上天线测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120573173.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-03-19
授权号 ：
CN216285496U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
卜景鹏东君伟邓杰文陈咏怡
申请人 ：
中山香山微波科技有限公司
申请人地址 ：
广东省中山市火炬开发区祥兴路6号数贸大厦南冀4层412卡
代理机构 ：
深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
王牌
优先权 ：
CN202120573173.8
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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