低频天线测试系统
授权
摘要

本实用新型涉及一种低频天线测试系统,包括:环形轨道,以及,活动连接在所述环形轨道上的测试探头;所述环形轨道采用非金属材料制成;所述环形轨道的中心设置有转台,所述转台用于承载被测件,所述被测件为低频天线。本实用新型低频天线测试系统中,由于测试探头连接在非金属材质的环形轨道上,因此,环形导轨内侧无需增加厚度1.5米左右或其他类型的吸波材料,故,现有技术中吸波材料难以安装,不方便与环形导轨固定、影响测试空间尺寸等问题都得到了解决。简单地说,本实用新型采用非金属环形轨道,无需吸波材料,且不会带来干扰。

基本信息
专利标题 :
低频天线测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922105702.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-29
授权号 :
CN211236036U
授权日 :
2020-08-11
发明人 :
夏冬雪
申请人 :
深圳市蓉声科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区福中路27号海连大厦连天阁1103室
代理机构 :
北京市商泰律师事务所
代理人 :
麻吉凤
优先权 :
CN201922105702.7
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-08-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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