一种天线测试工装及天线测试系统
授权
摘要

本实用新型涉及天线测试技术领域,公开了一种天线测试工装及天线测试系统,其中天线测试工装包括工装框架和导向孔组件,所述导向孔组件包括基体和设于所述基体上的多个导向孔,所述基体可拆卸连接于所述工装框架。本实用新型提供的一种天线测试工装及天线测试系统,设置导向孔组件,使测试接头插入时更加稳定,不会因线缆本身受力原因导致测试接口解除异常;又通过将导向孔做成组件,而非完全和工装框架做成一体的形式,在不需要导向孔情景下能自由拆除,使工装具备多情景下的通用性。

基本信息
专利标题 :
一种天线测试工装及天线测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022195651.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-29
授权号 :
CN214335074U
授权日 :
2021-10-01
发明人 :
谢光炜吴昌智齐子云曾易朱万双左志
申请人 :
武汉虹信科技发展有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市江夏区藏龙岛谭湖二路1号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
张睿
优先权 :
CN202022195651.4
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2021-10-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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