一种天线测试系统
授权
摘要

为了解决现有的无源天线测试技术中测试效率较低、稳定性较差、无法自由变换波束角度的技术问题,本实用新型提供了一种天线测试系统。天线测试系统包括测试仪表装置、权值配置装置和用于放置天线的暗室,权值配置装置包括射频矩阵和控制模块,控制模块与射频矩阵连接,测试仪表装置与射频矩阵连接,射频矩阵用于与天线连接,暗室设有探头,探头与测试仪表装置连接。本实用新型在使用时不需要改变硬件结构,只需要对权值配置装置的权值参数进行调节,就能够调整第三信号的波束角度,提高了天线测试的效率和稳定性;可以灵活、自由地调整权值参数,从而能够自由变化第三信号的波束角度。

基本信息
专利标题 :
一种天线测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020466403.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-02
授权号 :
CN212379488U
授权日 :
2021-01-19
发明人 :
曹宝华其他发明人请求不公开姓名
申请人 :
南京捷希科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市秦淮区中华路278号
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
郝传鑫
优先权 :
CN202020466403.6
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  G01R29/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2021-01-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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