机器臂片上天线测试系统

授权

摘要

本申请公开了机器臂片上天线测试系统，该测试系统包括：光学平台，机器臂，测试探头，射频探针以及待测天线支撑台；光学平台上设置有待测天线支撑台，待测天线支撑台用于固定支撑待测片上天线，光学平台上还设置有射频探针，射频探针的探头与待测片上天线相接触，射频探针用于向待测片上天线发送第一射频信号，其中，射频探针的探头采用共面波导结构压接在待测片上天线上；机器臂设置于光学平台上，机器臂的末端设置有测试探头，测试探头位于待测片上天线的上方，测试探头用于接收待测片上天线发送的第二射频信号。通过本申请中的技术方案，满足了毫米波片上天线方向图测试需求，并使得测试系统具备较强的测试灵活性与运动多样性。

基本信息

专利标题：

机器臂片上天线测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021044169.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-09

授权号：

CN212540550U

授权日：

2021-02-12

发明人：

邓晔张金平李斌马天野李晓峰

申请人：

中国电子科技集团公司第十四研究所

申请人地址：

江苏省南京市雨花开发区国睿路8号

代理机构：

北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

黄云铎

优先权：

CN202021044169.4

主分类号：

G01R29/10

IPC分类号：

G01R29/10 G01R1/04