一种智能化探针测试平台
授权
摘要
本实用新型公开并提供了一种智能化探针测试平台及。本实用新型包括测试控制箱体（1）、测试支撑架（2）、往复接触测试机构（3）以及测试夹具（4），所述测试支撑架（2）竖直设置在所述测试控制箱体（1）上，所述往复接触测试机构（3）设置在所述测试支撑架（2）上，所述测试夹具（4）设置在所述测试控制箱体（1）上并置于所述往复接触测试机构（3）的下方，所述测试控制箱体（1）内设置有数据分析与控制中心，所述往复接触测试机构（3）以及所述测试夹具（4）分别与所述数据分析与控制中心相连接。本实用新型适用于电子测试、光学测试以及半导体测试领域。
基本信息
专利标题 ：
一种智能化探针测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921113621.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-16
授权号 ：
CN210514487U
授权日 ：
2020-05-12
发明人 ：
邓章
申请人 ：
珠海达明科技有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市唐家湾镇软件园路1号会展中心1#3层1单元
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN201921113621.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/28 G01D21/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-05-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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