本实用新型提供了一种探针卡及晶圆测试系统，所述探针卡包括电性监控量测控制模块、第一支撑件、第一螺杆、第二螺杆和探针单元，所述电性监控量测控制模块与所述探针单元电连接，所述探针单元包括固定探针单元和可移动探针单元，所述固定探针单元固定在所述第一支撑件上，所述可移动探针单元位于所述第二螺杆上，所述可移动探针单元沿第一螺杆方向或者第二螺杆方向移动。所述探针卡可以测试不同尺寸的产品，无需制备不同的探针卡，降低制造成本和储存空间，也无需更换探针卡，降低了测试时间和加换探针卡失误的风险；通过在电性监控量测控制模块内设置不同尺寸的产品对应不同测试程序，可以自动实现不同的尺寸产品的测试。