本申请公开了一种晶圆测试卡及晶圆测试系统，该晶圆测试卡包括：基板；探针盘，位于基板上，探针盘上设置有探针；其中，基板还包括通讯模块、供电模块、控制模块、信号生成模块和信号采集模块，以缩短信号生成模块和信号采集模块与待测晶圆之间的距离。通过将部分测试机中的电路定制设计在晶圆测试卡上，大大缩短了信号从产生到传递至晶圆管芯以及从晶圆管芯反馈至采集模块的距离，增强了抗干扰能力，有利于提高测试精度和测试稳定性，通过使用该晶圆测试卡，还省去了用于生成和采集测试信号的测试机，减少检测设备的数量，降低了设备成本，使得晶圆测试系统的便捷性和易用性显著提升，减少了空间的占用，还进一步降低了操作人员的操作门槛。