影像测试系统、测试元件及影像获取卡
公开
摘要
本发明提供一种影像测试系统，包括:测试元件及影像获取卡。测试元件用于取得待测物的测试信号，并包括界面转换电路，用于转换测试信号的信号传输形式。影像获取卡用于自测试元件取得测试信号，并从测试信号中取得影像资料。其中，影像测试系统还包括测试信号时脉产生电路，用于从测试信号中取得测试信号时脉，或者影像获取卡还包括一对时脉输入脚位，用于直接从待测物取得测试信号时脉。
基本信息
专利标题 ：
影像测试系统、测试元件及影像获取卡
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609495A
申请号 ：
CN202011329348.7
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-11-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蔡秉谚郑光哲
申请人 ：
京元电子股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市公道五路二段81号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
鄢功军
优先权 ：
CN202011329348.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01C11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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