本实用新型涉及一种探针及安装有该探针的垂直探针晶元探针卡，其特点在于包括顶测试盘、底测试盘及设置于其中的若干探针，其中所述探针包括上接触端头、下接触端头及上、下接触端头之间设置有的多个方形弯折结构，所述顶测试盘、底测试盘分别相对地开有贯通的上、下锥孔，且该上锥孔与下锥孔的锥底口呈相对准设置，该探针穿置于上、下锥孔之间，且其上、下接触端分别伸出于顶、底测试盘外。本实用新型的探针具有受压缩弹性好、检测可靠、且可垂直安装等特点，使得可以根据具有这些特点探针组装出在一次接触测试中便能完成测试更多数量的集成电路(IC)的探针卡，而且该探针卡还具有检测结构准确、测试效率高的优点。