本实用新型公开了一种晶圆测试探针卡，包括底层PCB板，在底层PCB板上固定设置有测试探针，所述测试探针包括中空的探针柱、探针头，所述探针柱一端连接PCB板，另一端连接所述探针头，所述探针柱形同气缸结构，往探针柱中通入气压，活塞推动探针向下移动，当探针和焊盘接触时探针会产生形变，当形变的力大小达到测试所需要的力大小时，接触良好，针停止移动，此时的力与测试所需要的接触力相等，测试完成时，关闭气压，活塞带动针返回原来位置。本实用新型所述的探针卡可以在不增加损坏产品风险的基础上，控制每根探针在测试时接触力的大小与所需要的力相等，最大程度上减少接触不良问题。