一种用于晶圆多点测试的探针卡
专利申请权、专利权的转移
摘要

本实用新型公开了一种用于晶圆多点测试的探针卡,涉及探针卡领域,包括PCB板,PCB板的前侧面中部固定连接有探针基座,探针基座的前侧面固定连接有多个探针,探针包括探针筒和探针柱,探针柱设置于探针筒的顶端,探针柱的顶端设置为半圆形,探针柱的底端插入探针筒,探针柱的底端固定连接有挡盘,挡盘的直径大于探针筒筒口的内径,挡盘的下表面设有探针弹簧。本实用新型通过探针筒、探针柱、挡盘、滑槽以及探针弹簧的配合使用,能够对测试时产生的压力进行缓冲,避免过大的压力对探针柱造成损坏,同时能够保证探针柱与芯片接触,通过将探针柱的顶端设置为半圆形,能够延长探针柱的使用寿命,结构简单实用。

基本信息
专利标题 :
一种用于晶圆多点测试的探针卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921018563.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-02
授权号 :
CN210604727U
授权日 :
2020-05-22
发明人 :
刘家铭张孝仁苏华庭
申请人 :
元鼎丰投资有限公司
申请人地址 :
中国香港租庇利街1号喜讯大厦706室
代理机构 :
成都明涛智创专利代理有限公司
代理人 :
杜梦
优先权 :
CN201921018563.8
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2020-09-22 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : G01R 1/073
登记生效日 : 20200902
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 元鼎丰投资有限公司
变更后权利人 : 合肥芯测半导体有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 中国香港租庇利街1号喜讯大厦706室
变更后权利人 : 230000 安徽省合肥市经济技术开发区云二路176号云海路工业园A栋
2020-05-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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