利用参数测定单元进行转换器测试
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明的一方面是一种用于测试模数转换器(ADC)的集成电路(IC)，它包括参数测定单元(PMU)的第一通道，其配置成用于向ADC发送力信号。该IC还包括连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)。DAC具有精确度小于1毫伏的直流电平。本发明的另一方面是一种用于测试被测数模转换器器件(DACDUT)的集成电路(IC)。该IC包括一个参数测定单元(PMU)的第一通道，其配置成用于向DACDUT发送力信号，且包括一个用于进行测定的输出端口，该IC还包括连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)，以及一个连接到输出端口的PMU测定路径，它具有精确度小于1毫伏的直流电平。
基本信息
专利标题 ：
利用参数测定单元进行转换器测试
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101088223A
申请号 ：
CN200580044600.7
公开（公告）日 ：
2007-12-12
申请日 ：
2005-12-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
欧内斯特·P·沃克罗纳德·A·萨特斯奇夫
申请人 ：
泰拉丁公司
申请人地址 ：
美国马萨诸塞州
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
穆德骏
优先权 ：
CN200580044600.7
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10 H03M1/06
法律状态
2010-08-25 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101006990072
IPC(主分类) : H03M 1/10
专利申请号 : 2005800446007
公开日 : 20071212
号牌文件序号 : 101006990072
IPC(主分类) : H03M 1/10
专利申请号 : 2005800446007
公开日 : 20071212
2008-02-06 ：
实质审查的生效
2007-12-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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