光学各向异性参数测定方法及测定装置
专利权的终止
摘要
本发明的目的是提供可高速、高精度测定光学各向异性薄膜的光学轴的方向和大小、以及膜厚，并可进一步根据二维受光元件进行分布测定的方法和装置。其具体方式是以从测定点(M)向上的法线(Z)作为中心，从以预定角度间隔设定的多个入射方向，使P偏振光的单色光以预定入射角度照射，对应于入射方向检测出包含在其反射光中S偏振光的反射光强度，基于在反射光强度显示出极小值的入射方向中、被测定出了作为最大峰的两个极大值(∧1、∧(V1)的入射方向，确定测定点M中光学轴(OX)的方位角方向(Φ的极大值(∧1)和与其邻接的中间峰的极大值(∧3)夹着的极小值(V3)的入射方向，确定极角方向(θ)。
基本信息
专利标题 ：
光学各向异性参数测定方法及测定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1847816A
申请号 ：
CN200610084031.5
公开（公告）日 ：
2006-10-18
申请日 ：
2006-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
田之冈大辅
申请人 ：
株式会社茉莉特斯
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
王永刚
优先权 ：
CN200610084031.5
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2020-01-10 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G02F 1/13
申请日 : 20060124
授权公告日 : 20091216
终止日期 : 20190124
申请日 : 20060124
授权公告日 : 20091216
终止日期 : 20190124
2016-02-10 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101727835076
IPC(主分类) : G02F 1/13
专利号 : ZL2006100840315
变更事项 : 专利权人
变更前 : 肖特茉丽特株式会社
变更后 : 株式会社茉丽特
变更事项 : 地址
变更前 : 日本埼玉县
变更后 : 日本埼玉县
号牌文件序号 : 101727835076
IPC(主分类) : G02F 1/13
专利号 : ZL2006100840315
变更事项 : 专利权人
变更前 : 肖特茉丽特株式会社
变更后 : 株式会社茉丽特
变更事项 : 地址
变更前 : 日本埼玉县
变更后 : 日本埼玉县
2013-11-06 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101671090474
IPC(主分类) : G02F 1/13
专利号 : ZL2006100840315
变更事项 : 专利权人
变更前 : 株式会社茉莉特斯
变更后 : 肖特茉丽特株式会社
变更事项 : 地址
变更前 : 日本东京
变更后 : 日本埼玉县
号牌文件序号 : 101671090474
IPC(主分类) : G02F 1/13
专利号 : ZL2006100840315
变更事项 : 专利权人
变更前 : 株式会社茉莉特斯
变更后 : 肖特茉丽特株式会社
变更事项 : 地址
变更前 : 日本东京
变更后 : 日本埼玉县
2009-12-16 ：
授权
2008-02-13 ：
实质审查的生效
2006-10-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN100570310C.PDF
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2、
CN1847816A.PDF
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