测定方法及测定系统
授权
摘要
一种测定方法及测定系统，用于集成电路中测定嵌入式存储器宏模组的数据存取时间。单一外部测试信号输入至嵌入式存储器宏模组以致能数据输入，并获取数据输出。单一外部测试信号的脉冲宽度以递增方式增加，直到获得数据输出的闩锁。接着，可以获得数据存取时间，且其实质上等于增加后的脉冲宽度的时间间隔。本发明排除了在现有设计上任何时序偏移的问题。由于本发明只需要较少的测试电路，其实现设计较简单，且精确地测量也变得简单很多。
基本信息
专利标题 ：
测定方法及测定系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1822235A
申请号 ：
CN200610007826.6
公开（公告）日 ：
2006-08-23
申请日 ：
2006-02-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谢祯辉谢豪泰王道平
申请人 ：
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN200610007826.6
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2009-07-22 ：
授权
2006-10-18 ：
实质审查的生效
2006-08-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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