电路特性测定系统及电路特性测定方法
公开
摘要
本发明的电路特性测定系统1包括：信号电压发生电路2，对测定对象的被测定电路51依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及基准频率的整数倍的频率；测定电路3，依序测定因对被测定电路51依序施加所述周期电压信号而在被测定电路51中产生的信号的功率；以及传递函数算出部42，使用预先设定的数式、根据由测定电路3测定出的多个功率来算出被测定电路51的传递函数H、H2，所述周期电压信号包含高阶频率分量。
基本信息
专利标题 ：
电路特性测定系统及电路特性测定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114502967A
申请号 ：
CN202080067185.1
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-09-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
名仓彻鸙野俊寿山下宗寛吉泽正充
申请人 ：
学校法人福冈大学;日本电产理德股份有限公司;野田网印株式会社
申请人地址 ：
日本福冈县福冈市城南区七隈8丁目19番1号(邮编：8140180)
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨芳
优先权 ：
CN202080067185.1
主分类号 ：
G01R27/28
IPC分类号 ：
G01R27/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/28
衰减、增益、相移或四端网络，即双端对网络的派生特性的测量；瞬态响应的测量
法律状态
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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