粒子群特性测定装置、粒子群特性测定方法、粒子群特性测定装...
公开
摘要
一种粒子群特性测定装置，测定由分散在分散介质中的多个粒子构成的粒子群的特性亦即粒子群特性的随时间变动，包括：拍摄部，拍摄所述粒子群；粒子信息提取部，对由所述拍摄部拍摄到的拍摄图像进行处理，提取映现在该拍摄图像中的粒子的信息亦即粒子信息；粒子群特性计算部，根据从沿着时间序列的多个时点的各时点以前拍摄到的多个所述拍摄图像提取的所述粒子信息，来计算所述多个时点的所述粒子群特性，所述粒子群特性计算部根据从拍摄的时间段与比各时点更靠前的时点的用于计算所述粒子群特性的多个所述拍摄图像的拍摄的时间段一部分重复的多个所述拍摄图像提取到的所述粒子信息，来计算各时点的所述粒子群特性。
基本信息
专利标题 ：
粒子群特性测定装置、粒子群特性测定方法、粒子群特性测定装置用程序、粒径分布测定装置和粒径分布测定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114556080A
申请号 ：
CN202080071290.2
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2020-10-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
立脇康弘藤原真悟
申请人 ：
株式会社堀场制作所
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
鹿屹
优先权 ：
CN202080071290.2
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01N15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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