测定正极材料一次颗粒粒径的方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种测定正极材料一次颗粒粒径的方法，包括：对标定正极材料进行SEM测试，得到平均一次颗粒粒径L；对标定正极材料进行XRD测试，得到亚晶粒尺寸l；为标定正极材料建立平均一次颗粒粒径L与亚晶粒尺寸l的关系式L＝a*l，得到系数a的值；待测正极材料进行XRD测试得到对应的亚晶粒尺寸l，代入同类型正极材料对应的关系式得到待测正极材料的一次颗粒粒径，其中，标定正极材料与待测正极材料类型相同。本发明提供的测试方法克服了激光粒度仪测试无法反映材料一次粒径、SEM测试材料的一次颗粒粒径误差大的问题，能高效快捷地测试正极材料的一次颗粒粒径。
基本信息
专利标题 ：
测定正极材料一次颗粒粒径的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114383983A
申请号 ：
CN202111462598.2
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石忠洋刘范芬赵平李咏军温圣耀
申请人 ：
湖北亿纬动力有限公司
申请人地址 ：
湖北省荆门市高新区·掇刀区荆南大道68号
代理机构 ：
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 ：
唐超
优先权 ：
CN202111462598.2
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01N23/2251 G01N23/2055
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/02
申请日 : 20211202
申请日 : 20211202
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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