颗粒粒径的直接测量方法和测量装置
专利申请的视为撤回
摘要
本发明提供一种利用光学显微镜对颗粒粒径进行直接测量的测量方法及测量装置，采用步进电机来驱动载物平台和可动分划板的移动，从而可根据使可动分划板上的刻线扫过粒径所需输给步进电机的脉冲数来精确测量和计算颗粒粒径，并且输出的脉冲信号可由微机等装置进行自动计算，同时视场切换精确，极大地减轻了操作人员的劳动强度，使测量速度显著提高，同时保证了测量精度，使直接测量法能够在实际应用中得到充分发挥。
基本信息
专利标题 ：
颗粒粒径的直接测量方法和测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1084967A
申请号 ：
CN92111272.6
公开（公告）日 ：
1994-04-06
申请日 ：
1992-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李栋顾雪梅
申请人 ：
上海市测试技术研究所
申请人地址 ：
200233上海市宜山路716号
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
郑立
优先权 ：
CN92111272.6
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01B11/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1997-12-10 ：
专利申请的视为撤回
1996-02-07 ：
实质审查请求的生效
1994-04-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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