激光粒径测量仪
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要

一种激光粒径测量仪,由激光发射系统箱体1、He-Ne激光器2、二维调节支架3、激光电源4、扩束器5、仪器底座6、富里埃接收透镜7、透镜座8等组成,可用于工业锅炉、电站锅炉和环保系统的测量,这种测量仪的优点是结构简单,成本低,操作方便,可测细微颗粒最小直径为5微米,并能快速准确地得到测量结果。

基本信息
专利标题 :
激光粒径测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN89215818.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
1989-08-24
授权号 :
CN2064498U
授权日 :
1990-10-24
发明人 :
潘振中王秀华
申请人 :
机械电子工业部上海发电设备成套设计研究所
申请人地址 :
上海市闵行剑川路
代理机构 :
机械电子工业部上海专利事务所
代理人 :
翁若莹
优先权 :
CN89215818.2
主分类号 :
G01B11/08
IPC分类号 :
G01B11/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
1992-12-16 :
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1991-06-12 :
授权
1990-10-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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