就地粒径测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
对存在于流质中的粒子同时进行粒径分布和容积密度现场测量的粒径测量仪。其包括激光源14，激光传输装置40，校正器，第一聚焦装置64，待测粒子通过的取样通道74，第二聚焦装置78和检测装置82。其操作方式是：光源14的激光通过装置40传到校正器，经校正传至装置64，经聚焦穿过通道74，在此期间，由于其内的粒子而引起散射。散射和校正光均由装置78捕集而聚集到装置82上，由其采集激光强度分布，由此光强分布导出粒径分布并由预定方程算出容积密度。
基本信息
专利标题 ：
就地粒径测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87100685A
申请号 ：
CN87100685.5
公开（公告）日 ：
1987-08-26
申请日 ：
1987-02-12
授权号 ：
CN1003470B
授权日 ：
1989-03-01
发明人 ：
詹姆斯·马丁·奈兹奥利克詹姆斯·菲那兹·萨顿三世
申请人 ：
燃烧工程有限公司
申请人地址 ：
美国康涅狄格州
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
吴增勇
优先权 ：
CN87100685.5
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1995-04-05 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-11-29 ：
授权
1989-03-01 ：
审定
1987-08-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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