测量微粒粒径的系统
授权
摘要
本公开涉及测量微粒粒径的系统。该系统包括:传感器及鉴别放大电路,用于接收待测微粒散射光并产生多个脉冲信号;电子电路,用于确定多个脉冲信号的接收时刻;计算机,被配置为:在测量时间段内,根据多个脉冲信号的接收时刻以及至少一个相关时间中的多个采样时间段,分别确定每个采样时间段内的脉冲信号数量;根据多个采样时间段内的脉冲信号数量,分别计算每个相关时间的相关函数值;根据至少一个相关时间的相关函数值,获得待测微粒的直径或半径值。本公开的测量微粒粒径的方法,可以减小硬件电路的复杂程度,可以应对高计数情况,可以对不同相关时间设置不同的采样时间,以减小随机误差及系统误差,提高微粒粒径测量的速度及精度。
基本信息
专利标题 :
测量微粒粒径的系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110857909A
申请号 :
CN201810973274.7
公开(公告)日 :
2020-03-03
申请日 :
2018-08-24
授权号 :
CN110857909B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
张达王继军江学舟
申请人 :
北京世纪朝阳科技发展有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区北三环西路48号院1号楼A座6B
代理机构 :
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘新宇
优先权 :
CN201810973274.7
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-05-20 :
授权
2020-03-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/02
申请日 : 20180824
申请日 : 20180824
2020-03-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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