大气微粒测量装置
专利权的终止
摘要

大气微粒测量装置,包括激光器、准直器、分光棱镜、反射镜、CCD图像传感器和计算机,激光器发出的激光经准直器扩束准直后由第一分光棱镜分为物光和参考光,物光经物光反射镜反射,透过微粒测试场,再经第二分光棱镜投射到CCD图像传感器的记录表面,参考光依次经参考光反射镜和第二分光棱镜反射后也投射到CCD图像传感器的记录表面,CCD图像传感器将物光和参考光在其表面产生的干涉图样数据传送给计算机。本实用新型克服了目前应用较为广泛的光散射法测量装置结构较为复杂,且仅能测试大气微粒的粒径分布及数量的缺陷,提出一种结构简单的大气微粒测量装置,能更为全面地分析测量大气微粒的粒径大小、数量、浓度及分布。

基本信息
专利标题 :
大气微粒测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720051350.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-05-11
授权号 :
CN201034910Y
授权日 :
2008-03-12
发明人 :
黄云李耀棠张世超范少武徐文黄泽文
申请人 :
中国科学院广州电子技术研究所
申请人地址 :
510070广东省广州市先烈中路100号大院23-1栋
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200720051350.6
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/49  G06F19/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2017-06-23 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101729158131
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利号 : ZL2007200513506
申请日 : 20070511
授权公告日 : 20080312
终止日期 : 无
2008-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201034910Y.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332