激光微粒测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种激光微粒测量仪由激光器、装被测颗粒的样品池、光电探测器、接口电路和计算机组成。它不采用富里埃变换透镜和空间滤波器等高精度的光学元件，能达到同类仪器相同的测量精度的前提下，大大简化了机械结构，使仪器成本降低近二倍，同时，只要直接改变样品池与光电探测器之间的距离即可改变测量范围，操作方便，并使颗粒直径的测量下限可达到0.2微米。在国民经济的许多部门中，很有推广使用的价值。
基本信息
专利标题 ：
激光微粒测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91205415.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-04-02
授权号 ：
CN2090056U
授权日 ：
1991-12-04
发明人 ：
张宏建徐贯东慎大刚
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
310027浙江省杭州市玉泉
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
林怀禹
优先权 ：
CN91205415.8
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1996-05-22 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-07-29 ：
授权
1991-12-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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