一种大气云雾场颗粒探测与粒径测量的装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种大气云雾场颗粒探测与粒径测量的装置:激光扩束平行系统,激光扩束平行系统产生平行光束照射颗粒探测区域,当有颗粒存在时,颗粒产生颗粒散射光;颗粒探测与全息拍摄系统,包括数字相机,颗粒探测与全息拍摄系统用于判断颗粒探测区域是否有颗粒存在,有颗粒存在时,颗粒散射光的一部分进入数字相机并在控制与数据处理系统的控制下对所述颗粒探测区域记录颗粒全息图;控制与数据处理系统,包括光电探测器,颗粒散射光的另一部分触发光电探测器产生脉冲触发信号;控制与数据处理系统利用光电探测器产生的脉冲触发信号控制数字相机拍摄颗粒全息图,并进行重建和处理获得颗粒粒径大小。该装置极大提高了颗粒采样与测量效率。

基本信息
专利标题 :
一种大气云雾场颗粒探测与粒径测量的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020333429.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-17
授权号 :
CN212410375U
授权日 :
2021-01-26
发明人 :
吴迎春金昱廷吴学成李晗孙玉玺高燚超金其文张宏宇陈玲红岑可法
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 :
白静兰
优先权 :
CN202020333429.3
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  G01S17/95  G01S7/48  G01S7/481  G01S17/89  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2021-01-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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