颗粒大小分布测量装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
利用离心力场测量颗粒大小分布的一种装置。它包括使悬浮液旋转的一种结构；用于检测悬浮液对光的吸收的一种光学单元；以及一种微型计算机。悬浮液悬浮待检测的颗粒。颗粒的大小分布将被测量。光学单元测量与时间有关的颗粒浓度的变化，这种变化是由于悬浮液旋转所产生的离心力场迫使颗粒运动引起的。微型计算机提供了一个存贮器，用于存贮根据测量的颗粒浓度变化计算颗粒大小分布的公式；以及用于校正在离心力场中由于非平行颗粒运动引起的有害影响的公式，这一公式给出了没有非平行颗粒运动误差的颗粒大小分布。
基本信息
专利标题 ：
颗粒大小分布测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85104282A
申请号 ：
CN85104282.1
公开（公告）日 ：
1986-12-03
申请日 ：
1985-06-06
授权号 ：
CN1010978B
授权日 ：
1990-12-26
发明人 ：
竹内和林田和弘失野省三
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府京都市
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
赵蓉民
优先权 ：
CN85104282.1
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2001-01-24 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1991-08-14 ：
授权
1990-12-26 ：
审定
1988-10-12 ：
实质审查请求
1986-12-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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