粒子大小分布测量装置
被视为撤回的申请
摘要
本发明涉及的是离心粒子大小分布测量装置。为了防止测样点偏离测光轴线，使特有取样管的圆盘旋转的电机具有一个安装构件。该安装构件上有一个光源和一个光接收器，两者透过所述的圆盘彼此相对。
基本信息
专利标题 ：
粒子大小分布测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85105979A
申请号 ：
CN85105979
公开（公告）日 ：
1987-02-04
申请日 ：
1985-08-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
泽田喜行西條丰石原正昭
申请人 ：
株式会社堀场制作所
申请人地址 ：
日本京都府京都市南区
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
王洁
优先权 ：
CN85105979
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1989-11-22 ：
被视为撤回的申请
1988-06-15 ：
实质审查请求
1987-02-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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