测量粒子电阻和电抗的粒子分析器

专利权的终止未缴年费专利权终止

摘要

测量粒子的不透电性所需数据的电路，包含提供常规直流电流通过检测器(12)的检测孔(16)的电流源(22)，提供高频电流通过孔的振荡器(24)。振荡器包含有源元件(32)和谐振电路(34)，孔与振荡器的谐振电路(34)并联。当粒子通过孔时，孔的电阻增加，从而使振荡器Q值增加，于是振荡器的输出信号按照增加后的Q值被幅值调制。不同频率的多个振荡器可以通过耦合电路与检测器并联耦合，该耦合电路将各振荡器通过一个低阻抗通道与检测器相联，并将各振荡器与具有其它振荡器频率的信号隔离。

基本信息

专利标题：

测量粒子电阻和电抗的粒子分析器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN87106976A

申请号：

CN87106976.8

公开（公告）日：

1988-06-29

申请日：

1987-10-19

授权号：

CN1015662B

授权日：

1992-02-26

发明人：

瓦拉斯·H·科特卡洛斯·M·罗德里古茨

申请人：

科特电子公司

申请人地址：

美国佛罗里达州

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利代理部

代理人：

陈景峻

优先权：

CN87106976.8

主分类号：

G01N27/02

IPC分类号：

G01N27/02