粒子测量方法及其粒子探测传感器
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
粒子自动测量方法及其粒子探测传感器，适用于对液体中固体粒子的自动测量，本发明采用长狭缝液体通管，使整个液体通道截面增大，解决了大粒子堵塞液体通道的问题。采用带电子快门的面阵CCD摄像机，用电视图象测量法测量粒子的大小，具有测量精度高，粒度分析灵活性大的特点，既可用等效圆法计算粒径，也可用最大径法计算粒径。测量过程中，可监视粒子图象，通过外接录像相机，可录像存档，便于事后分析。
基本信息
专利标题 ：
粒子测量方法及其粒子探测传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1105450A
申请号 ：
CN94111609.3
公开（公告）日 ：
1995-07-19
申请日 ：
1994-01-14
授权号 ：
CN1036093C
授权日 ：
1997-10-08
发明人 ：
戴俊钊
申请人 ：
中国科学院光电技术研究所
申请人地址 ：
610209四川省成都市双流350信箱五室
代理机构 ：
中国科学院成都专利事务所
代理人 ：
张一红
优先权 ：
CN94111609.3
主分类号 ：
G01N15/14
IPC分类号 ：
G01N15/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
G01N15/14
电光测试
法律状态
2001-03-07 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1997-10-08 ：
授权
1995-07-19 ：
公开
1995-04-19 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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