测量装置和测量方法
授权
摘要
在考虑CPE/ICI校正的同时适当地确定EVM测量值。在测量装置(300)中，EVM测量单元(305)测量从发送装置发送的信号的调制质量。在接收装置中需要与发送装置的相位噪声有关的校正的情况下，EVM确定单元(306)确定调制质量的测量值是否等于或小于第一要求值。这里的第一要求值高于在接收装置中不需要与发送装置的相位噪声有关的校正的情况下在测量值的确定中使用的第二要求值。
基本信息
专利标题 ：
测量装置和测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110537351A
申请号 ：
CN201780089601.6
公开（公告）日 ：
2019-12-03
申请日 ：
2017-04-28
授权号 ：
CN110537351B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
真木翔太郎铃木秀俊王立磊
申请人 ：
松下电器（美国）知识产权公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
张健
优先权 ：
CN201780089601.6
主分类号 ：
H04L25/03
IPC分类号 ：
H04L25/03
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2019-12-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04L 25/03
申请日 : 20170428
申请日 : 20170428
2019-12-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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