测量方法及装置
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摘要
本公开是关于测量方法及装置。该方法包括：获取机台的参考损耗值；使用参考损耗值分别校准预设数量的主板，获取各主板的预设指标的校准值；当各主板的预设指标的校准值符合正态分布时，计算各主板的预设指标的目标值与正态分布的期望值的差值；根据差值调整参考损耗值，得到机台的目标损耗值。本公开能够实时动态地对每个机台的损耗值进行调整，无需使用专业的测量仪器逐个对每个机台的损耗值进行测量，能够降低测量成本，简化测量操作，提高校准和测试效率，提高生产效率。
基本信息
专利标题 ：
测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111351989A
申请号 ：
CN201811583557.7
公开（公告）日 ：
2020-06-30
申请日 ：
2018-12-24
授权号 ：
CN111351989B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
潘明争
申请人 ：
北京小米移动软件有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区清河中街68号华润五彩城购物中心二期9层01房间
代理机构 ：
北京尚伦律师事务所
代理人 ：
谢丽莎
优先权 ：
CN201811583557.7
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26 H04M1/24
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2020-07-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20181224
申请日 : 20181224
2020-06-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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