测量系统和测量方法
授权
摘要
本发明提供测量系统和测量方法。在该测量方法中，使用用于支承工件(2)的机械臂(5)、用于支承检测头(3)的作为支承机构的三维测量仪(4)、以及用于将检测头(3)和工件(2)互相固定的作为固定部的抵接块(6)，使固定于工作台(41)的抵接块(6)和工件(2)相抵接，在检测头(3)和工件(2)互相固定的状态下利用检测头(3)来测量工件(2)。
基本信息
专利标题 ：
测量系统和测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109931898A
申请号 ：
CN201811481876.7
公开（公告）日 ：
2019-06-25
申请日 ：
2018-12-05
授权号 ：
CN109931898B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
石川雅弘萱场義隆吹野豪村松弘隆
申请人 ：
株式会社三丰
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN201811481876.7
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00 B25J19/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2020-09-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/00
申请日 : 20181205
申请日 : 20181205
2019-06-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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