电压测量系统及电压测量方法
授权
摘要
本申请公开了一种电压测量系统，其包括转换单元、判断单元、测量单元以及控制单元；本申请提供的电压测量系统，当待测电位信号的电压大于测量单元的测量限值时，可以阻止待测电位信号输出至测量单元，避免了对测量单元造成损坏。
基本信息
专利标题 ：
电压测量系统及电压测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111337737A
申请号 ：
CN202010287714.0
公开（公告）日 ：
2020-06-26
申请日 ：
2020-04-13
授权号 ：
CN111337737B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
高磊
申请人 ：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
何辉
优先权 ：
CN202010287714.0
主分类号 ：
G01R19/25
IPC分类号 ：
G01R19/25
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R19/25
采用数字测量技术
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-07-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 19/25
申请日 : 20200413
申请日 : 20200413
2020-06-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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