一种光纤FPI传感器、测量装置及测量方法
授权
摘要
本发明涉及一种光纤FPI传感器、测量装置及测量方法。本发明提供的纤FPI传感器、测量装置及测量方法，通过采用包含有依次级联的引导单模光纤、传感光纤毛细管、传感单模光纤和尾部光纤毛细管的光纤FPI传感器，直接对hybrid Vernier effect进行解调，并采用包络拟合的方式进行单腔信息的还原，进而放大灵敏度。同时，利用灵敏度矩阵，可以有效的消除交叉敏感，实现多参数同时测量。此外，本发明提供的光纤FPI传感器仅由引导单模光纤、传感光纤毛细管、传感单模光纤和尾部光纤毛细管进行级联即可，具有结构简单、成本低廉的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种光纤FPI传感器、测量装置及测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112556595A
申请号 ：
CN202011385238.2
公开（公告）日 ：
2021-03-26
申请日 ：
2020-12-01
授权号 ：
CN112556595B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
田佳峻周程周倩陈鹏辉周盛楠姚勇
申请人 ：
哈尔滨工业大学（深圳）
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽大学城哈工大校区
代理机构 ：
北京高沃律师事务所
代理人 ：
王爱涛
优先权 ：
CN202011385238.2
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16 G01K11/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2021-04-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20201201
申请日 : 20201201
2021-03-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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