单模光纤双折射测量方法
专利权的终止
摘要
一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤。此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态，即测出两个输出线偏振态的传播相位差2φ的绝对值，绘出sin2φ～a2l2曲线(此处l2为光纤中间未粘部分的长度，a2为其扭曲率)，将曲线极值点的横坐标代入公式(I)，求出双折射值。测量是通过单色光源、偏振片、物镜、光纤固定装置、光纤扭曲装置、四分之一波长片、光检测器等进行的。
基本信息
专利标题 ：
单模光纤双折射测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85100420A
申请号 ：
CN85100420.2
公开（公告）日 ：
1986-08-13
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85100420B
授权日 ：
1988-04-13
发明人 ：
黄上元林宗琦
申请人 ：
上海交通大学光纤技术研究所
申请人地址 ：
上海市法华钲路535号
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
颜承根
优先权 ：
CN85100420.2
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
1990-08-15 ：
专利权的终止
1989-01-04 ：
授权
1988-04-13 ：
审定
1986-08-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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