光纤特性测量设备和光纤特性测量方法
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摘要
本公开提供一种光纤特性测量设备，包括：检测器，该检测器对通过使光入射到被测光纤上而获得的布里渊散射光进行检测；光谱分析器，该光谱分析器从布里渊散射光获得布里渊增益光谱；以及光谱分析控制器，该光谱分析控制器用于：通过分析布里渊增益光谱来测量被测光纤的特性以获得布里渊增益光谱的峰值频率，并且根据该峰值频率来改变被光谱分析器用于获得布里渊增益光谱的频率范围。
基本信息
专利标题 ：
光纤特性测量设备和光纤特性测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111060285A
申请号 ：
CN201910988281.9
公开（公告）日 ：
2020-04-24
申请日 ：
2019-10-17
授权号 ：
CN111060285B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
古川靖
申请人 ：
横河电机株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陆嘉
优先权 ：
CN201910988281.9
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01M11/02
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2020-05-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20191017
申请日 : 20191017
2020-04-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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