电路板特性阻抗测量方法及系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

一种电路板特性阻抗测量方法及系统,应用在对一电路板进行一特性阻抗测量程序,该电路板特性阻抗测量系统至少包括:一电路板定位模块、一探针模块、一阻抗测量仪器模块以及一品管判别模块;本发明的电路板特性阻抗测量方法及系统预先在待测的电路板上设定一组测量触点;并在实际进行测量时,将一组探针接触到这些测量触点上,令阻抗测量仪器自动测量出该电路板的特性阻抗值,并将实际测量到的特性阻抗值与客户规格所要求的特性阻抗值作比较;若不相符合,则即将该电路板退回给制造部门;在微波线路电路板的制造上,本发明可快速检验出制成的微波线路电路板的特性阻抗是否符合客户所要求的值,确保制成的电路板的品质性及可用性。

基本信息
专利标题 :
电路板特性阻抗测量方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1940580A
申请号 :
CN200510107993.3
公开(公告)日 :
2007-04-04
申请日 :
2005-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
金新国范文纲
申请人 :
英业达股份有限公司
申请人地址 :
台湾省台北市
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
程伟
优先权 :
CN200510107993.3
主分类号 :
G01R27/28
IPC分类号 :
G01R27/28  G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/28
衰减、增益、相移或四端网络,即双端对网络的派生特性的测量;瞬态响应的测量
法律状态
2008-11-26 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-05-30 :
实质审查的生效
2007-04-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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