扰动自适应调节的阻抗测量方法

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摘要

本发明提供了一种扰动自适应调节的阻抗测量方法，属于电能质量和控制领域。该方法所涉及的阻抗测量装置包括扰动注入单元和扰动控制单元，所述阻抗测量方法在伯德图坐标系下线性插值选择扰动频率，预测待测阻抗，根据预测阻抗的幅值和相位调节注入扰动的幅值大小，根据实际测量阻抗判断阻抗的线性度，调节下一频率方向和步长。方法实现简单，能实现对阻抗特性完全未知的并网设备在阻抗不规律的频段更为密集的测量，防止频率步长过大、遗失信息。根据预测阻抗调节注入扰动电流的大小能有效防止注入扰动电流过大对设备造成危害；所提供的阻抗测量方法能够实现扰动频率步长和幅值的自适应控制。

基本信息

专利标题：

扰动自适应调节的阻抗测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112782481A

申请号：

CN202011643548.X

公开（公告）日：

2021-05-11

申请日：

2020-12-30

授权号：

CN112782481B

授权日：

2022-04-01

发明人：

李飞吴金涛方益成张永新马铭遥张兴

申请人：

合肥工业大学

申请人地址：

安徽省合肥市包河区屯溪路193号

代理机构：

合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

王挺

优先权：

CN202011643548.X

主分类号：

G01R27/08

IPC分类号：

G01R27/08